Материальная база

Специализированная лаборатория – ауд. 4416.

Лаборатория оборудована двумя микротомографами:

 

SkyScan 1173

pribor 1.jpg

Технические характеристики системы Skyscan 1173

  • Рентгеновский источник 40-130 kV, 8 W, размер пятна <5 μm
  • Рентгеновская камера Широкоугольный сенсор с разрешением 2240×2240 p., 12-bit
  • Пространственное разрешение <4-5 um – различимость деталей, 7-8 um низкоконтрастное разрешение
  • Реконструкция Одиночный ПК или вычислительный кластер (алгоритм Фельдкампа)
  • Максимальный размер образца 140 мм в диаметре, 200 мм в длину (длина сканирования 100-140 мм)
  • Радиационная безопасность <1μSv/h радиации в любой точке на поверхности аппаратуры
  • Рабочие параметры системы 200-240 V/3A или 100-130 V/4A AC, 50/60Hz (автоматическое переключение) (только сканер). (хранение -10°C… + 50°С, работа +18°C до + 25°C, максимальная влажность 70%, отсутствие конденсации)

 

Specifications Skyscan 1173 desk-top x-ray microtomograph

  • X-ray source 40-130 kV, 10 W, <5 um spot size.
  • X-ray detector (2240×2240 pixels) or 11 Mp (4032×2688 pixels).
  • Spatial resolution <4-5 um detail detectability, 7-8 um low contrast resolution.
  • Reconstruction single PC or cluster volumetric reconstruction.
  • Maximum scanning object diameter is 140 mm, 200 mm in length (100-140 mm scanning length).
  • Radiation safety: <1 microSv/h in 15 cm from any point of instrument surface.
  • Operating conditions: 18-25oC, <70% humidity (no condensation), 200-240 V AC, 50‑60 Hz, max. 3 A, typical power consumption during running with maximum X-ray power is 90 W.

 

Skyscan 1272

pribor 2.jpg

 

Технические характеристики системы Skyscan 1272

  • Микрофокусный герметичный рентгеновский источник 20-100 kV, 10 W, размер пятна <5 um при 4 W.
  • рентгеновский детектор 16 Mp (4904×3280 пикселей) или 11 Mp (4032×2688 пикселей), 14 битный охлаждаемый CCD подсоединенный к сцинтиллятору оптоволокном.
  • размер пиксела при максимальном увеличении [штатном разрешении] 0.35 um (16 Mp) или 0.45 um (11 Mp);
  • блоки реконструкции - до 14450×14450×2630 пикселей (16 Mp) или 11840×11840×2150 пикселей (11 Mp) после одиночного скана;
  • максимальный диаметр образца 75 mm с 2 кратным смещением камеры, 52 mm с одним смещением камеры, диаметр сканирования для самой быстрой развертки (центрального положения камеры) 26 mm.
  • 6 интегрированных фильтров, стандартные конфигурации: без фильтра, Al 0.25 mm, Al 0.5 mm, Al 1 mm, Al 0.5 mm + Cu 0.038 mm, Cu 0.11 mm.
  • интегрированный микропозиционный столик, перемещение 5… 7 mm (в зависимости от ориентации);
  • радиационная безопасность: <1 microSv/h в 15 cm от любого пункта поверхности аппаратуры.
  • Размеры системы (исключая ПК управления): 1160 W × 520 D × 340 H mm (440 H mm со сменником образцов), 150 kg.
  • Условия работы: 18-25°C, влажность <70% (отсутствие конденсации), 100-240 V AC, 50-60 Hz, max. 3 A, типичный расход энергии во время работы с максимальной силой рентгеновского излучения – 90 W.

Specifications skyscan 1272 desk-top x-ray Microtomograph

  • Microfocus sealed X-ray source 20-100 kV, 10 W, <5 um spot size 4 W.
  • X-ray detector 16 Mp (4904×3280 pixels) or 11 Mp (4032×2688 pixels), 14 bit cooled CCD fiber-optically coupled to scintillator.
  • Pixel size on the object at maximum magnification [nominal resolution] is 0.35 um (16 Mp) or 0.45 um (11 Mp).
  • Reconstruction arrays – up to 14450×14450×2630 pixels (16 Mp) or 11840×11840×2150 pixels (11 Mp) after a single scan.
  • Maximum scanning object diameter is 75 mm using three camera offset positions, scanning diameter 52 mm using two camera offset positions, scanning diameter for fastest scan (central camera position) is 26 mm.
  • 6-position integrated filter changer, standard filters: no filter, Al 0.25 mm, Al 0.5 mm, Al 1 mm, Al 0.5 mm + Cu 0.038 mm, Cu 0.11 mm.
  • Integrated micro-positioning stage, 5…7 mm travel (dependent on orientation).
  • Radiation safety: <1microSv/h in 15 cm from any point of instrument surface.
  • System dimensions (excluding control PC): 1160 W × 520 D × 340 H mm (440 H mm with sample changer), 150 kg.
  • Operating conditions: 18-25oC, <70% humidity (no condensation), 100-240 V AC, 50-60 Hz, max. 3 A, typical power consumption during running with maximum X-ray power is 90W

 

Основные задачи, решаемые с помощью микротомографа:

 

Нефтяная геология

  • определение общей и открытой пористости с высокой точностью;
  • получение формы порового пространства в объеме (оценка формы и размера пор), диагностика насыщения пор углеводородами/водой. Анализ может проводиться на штуфах и на шламе (с меньшей точностью);
  • выявление физических и химических изменений, включая фильтрационные, возникающие при применении кислотные обработки воздействия на пласт.

Палеонтология

  • микропалеонтологический анализ (диагностика конодонтов, фораминифер, и т.д.) без дорогостоящей и времяёмкой пробоподготовки;
  • выявление микронеоднородностей (размер до 0,5 мм) по кристаллической структуре карбоната (раковины фораминифер);
  • изучение микроструктур макропалеонтологических объектов.

Петрография, литология, седиментология

  • оценка минерального состава и распределения минеральных агрегатов в объеме штуфа. Уверенно определяются не все группы минералов.
  • получение объемных текстурно-структурных характеристик для штуфов горных пород и бурового шлама. Возможно выявление визуально ненаблюдаемых текстур.
  • распределение акцессорных минералов и их содержание в породе;
  • анизотрпия ориентировки частиц как показатель направления потоков;
  • морфология микростиллолитов;
  • точный объемный (в отличие от шлифов) гранулометрический анализ обломочных пород, в том числе сильно литифицированных.

Кристаллография, минералогия, геммология

  • микровключения (форма, размер, состав, распределение) в кристаллах и кристаллических агрегатах;
  • зональность кристаллов;
  • морфология микрокристаллических агрегатов;
  • дефекты в кристаллических структурах;
  • структуры органо-минеральных нанокомпозитов;
  • определение массы, размера и формы знаков золота и др. благородных металлов.

Черная и цветная металлургия (качество минерального сырья)

  • исследование фазовой неоднородности и определение морфоструктурных характеристик, определяющих раскрытие рудных минералов марганцевых, железных и др. руд (в совокупности с минералогическими исследованиями).

Металлообработка

  • определение физико-механических свойств деталей (с максимальным размером до 140*200 мм);
  • обнаружение и измерение трехмерных микроскопических низкоконтрастных дефектов: трещин, пор и раковин.